50G突發(fā)誤碼分析儀
rBT3250是專門針對下一代25G/50G無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)應(yīng)用的光線路終端(OLT)測試新型突發(fā)誤碼分析儀,用于評估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機(jī)性能。
rBT3250提供2個獨立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測器通道,支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析,具有兩路突發(fā)時分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力,碼型時序靈活可調(diào)。并針對器件測試需求,給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、復(fù)位信號等低速控制通道。產(chǎn)品內(nèi)置時鐘恢復(fù),可以自動測距,輕松應(yīng)對長纖測試。
50GPON模塊測試
(a)
(b)
如圖a所示,搭建50G PON 突發(fā)測試環(huán)境,主要由兩個ONU模塊和一個OLT模塊組成。突發(fā)誤碼測試儀兩個突發(fā)通道PPG時分交替發(fā)送具備突發(fā)幀結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)(preamble & Data)及激光器使能信號(enable),使兩個ONU模塊交替發(fā)送突發(fā)數(shù)據(jù),分別經(jīng)過衰減器,模擬不同長度光纖上的功率衰減,經(jīng)過分光路器合成一路光,接入OLT模塊。突發(fā)誤碼測試儀ED向OLT發(fā)送reset信號并接收突發(fā)數(shù)據(jù),進(jìn)行兩路突發(fā)誤碼比較。
如圖b所示,在雙突發(fā)測試過程中,突發(fā)誤碼測試儀通過配置兩個突發(fā)通道的突發(fā)幀長度(preamble & Data),以及衰減器的衰減量,可以充分檢測OLT模塊在接收不同光功率,不同突發(fā)數(shù)據(jù)長度時的性能。
產(chǎn)品優(yōu)勢
01,支持突發(fā)和連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試:
支持2路突發(fā)時序可配置的碼型發(fā)生器通道和2路突發(fā)誤碼測試通道
02,突發(fā)模式支持速率:
24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps
03,支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測試通道:
控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉(zhuǎn)換。
04,支持2路雙復(fù)位控制通道:
復(fù)位位置可調(diào),復(fù)位寬度可調(diào)
主要應(yīng)用
01,50G PON OLT模塊研發(fā)及生產(chǎn)測試
02,突發(fā)線性TIA芯片測試:
需要驗證突發(fā)信號情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態(tài)
03,對碼型時序有特殊要求的一些場合
04,多通道信號輸出,多路信號碼型同步、時延同步
05,SDI碼型或者成幀信號產(chǎn)生及誤碼探測
技術(shù)指標(biāo)
碼型發(fā)生指標(biāo)
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輸出 |
差分, 交流耦合,100?±10% |
輸出幅度 |
差分,100-600mVp-p |
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輸出通道 |
突發(fā)通道(50Gbps NRZ) |
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連續(xù)通道(50Gbps NRZ/PAM4) |
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支持碼型 |
支持:PRBS7,15,23,31,SSPR,自定義碼型及CID碼型 |
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上升時間 (20%~80%) |
<12ps |
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抖動(RMS) |
<0.9ps |
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碼型序列 |
支持前導(dǎo)碼、保護(hù)時間及負(fù)荷時序信號的產(chǎn)生及編輯 |
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CID 碼型 |
長度64-128 bits 可調(diào) |
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時鐘輸出 |
1/2、1/4、1/8、1/16分頻時鐘輸出 |
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連接器類型 |
2.4mm female,50Ω |
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RSSI 觸發(fā)輸出 |
支持RSSI觸發(fā)信號脈沖寬度、重復(fù)周期、位置可調(diào) |
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誤碼探測器指標(biāo) |
輸入類型 |
差分, 交流耦合,100?±10% |
幅度 |
100~800mVpp |
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靈敏度 |
>100mV |
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時鐘模式 |
內(nèi)置時鐘恢復(fù) |
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連接器 |
2.4mm female,50Ω |
關(guān)于聯(lián)訊
聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備供應(yīng)商。主要專注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導(dǎo)體功率芯片等測試儀表和設(shè)備的研發(fā)制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)流量測試儀、高精度快速波長計、精密數(shù)字源表、低泄漏矩陣開關(guān)等高端測試儀器,以及高速光電混合ATE、半導(dǎo)體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統(tǒng)、WLR/PLR可靠性測試系統(tǒng)等高端測試設(shè)備。
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